一種使用積分球測試發散光和激光的解決方案

一種使用積分球測試發散光和激光的解決(jue) 方案

發散光

發散光測量的三種方法：

有三種方法可測量發散光和激光：第一種方法是積分球，其用於(yu) 捕獲進入的所有光線。第二種方法是簡單地使用一個(ge) 超大孔徑，使其靠近光源，以包含大部分或所有功率。最後一種方法是測量功率或能量密度。在這種情況下，不需要所有激光投中傳(chuan) 感器。

積分球基礎和應用

積分球從(cong) 通常位於(yu) 光學器件外部的源收集電磁輻射，通常用於(yu) 磁通量測量或光衰減。引入積分球的輻射撞擊反射壁並經曆多次漫反射。經過多次反射後，輻射在球壁上高度均勻地分散。由此產(chan) 生的綜合輻射水平與(yu) 初始輻射水平成正比，可以使用探測器輕鬆測量。

Ophir的通用球體(ti) 被設計為(wei) 具有成本效益的球體(ti) ，可以針對各種應用以各種方式進行配置。憑借廣泛的附件係列，單個(ge) 球體(ti) 可以執行各種積分球任務，例如均勻照明，光測量和反射率測量，並具有合理的精度。Ophir球體(ti) 為(wei) 積分球光測量和光表征提供了方便的選擇。

球體(ti) 材質

IS-1 和 IS6 積分球使用固體(ti) PTFE 型反射材料，3A-IS 使用噴塗在 BaSO4 材料上的積分。PTFE材料在250 - 2500 nm光譜範圍內(nei) 表現出非常高的漫反射率，在400 nm和1500 nm之間反射率大於(yu) 99%

積分球在光測量中的優(you) 點：

與(yu) 其他光測量方法相比，積分球具有以下優(you) 點：

它們(men) 可以測量超過±45º的發散光束，這是其他方法無法測量的。

它們(men) 可以測量相對較高的功率（IS6-VIS高達30W），但具有比熱傳(chuan) 感器大得多的動態範圍，因此相同的IS6-VIS也可以測量低至微瓦。

積分球可以測量大尺寸的低功率光束（例如IS6在幾十uW時為(wei) 60mm的光束）

積分球對光束對準或相幹性不敏感

由於(yu) 其反射表麵，它們(men) 具有很高的損傷(shang) 閾值，特別是對於(yu) 短脈衝(chong)

積分球可用於(yu) 同時測量功率、頻譜和時間脈衝(chong) 形狀。

積分球具有光電二極管的快速響應時間，但可以像熱傳(chuan) 感器一樣測量高功率

積分球可以靈活地配置為(wei) 多種方式測量（如下所述）。

IS6積分球係列

現在，我們(men) 將介紹可配置的 Ophir IS6 5.3" 積分球。
在為(wei) 預期應用選擇球體(ti) 時，集成球上的端口大小和位置是重要的考慮因素。球體(ti) 端口為(wei) 積分球增加了功能，但同時降低了球體(ti) 內(nei) 部光分布的均勻性。總端口麵積與(yu) 球體(ti) 內(nei) 壁麵積的比率稱為(wei) 端口分數。端口分數參數構成球體(ti) 性能精度的度量。具有低端口分數的積分球比具有*端口分數的積分球提供更好的性能。

IS6 端口位置

積分球上的每個(ge) 端口都有特定的功能，任何端口使用不當都會(hui) 產(chan) 生不準確的測量結果。一些端口提供單一功能;某些端口提供多種功能。所有IS6積分球都可用於(yu) 準直和發散光測量應用。4 端口積分球還可以提供漫反射/透射率測量功能，如下圖所示。

使用 IS6 進行發散波束測量

發散光束在這裏被定義(yi) 為(wei) 發散度超過±15º的光束。在這種情況下，球體(ti) 必須布置成內(nei) 部擋板，以防止探測器直接暴露在光源上。擋板由與(yu) 其他反射表麵相同的反射 PTFE 材料製成。

準直梁在這裏被定義(yi) 為(wei) 發散度小於(yu) ±15º的梁。在這種情況下，需要阻擋光束從(cong) 傳(chuan) 感器擊中球壁的區域，因此排列如下：