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日期:2023-11-23瀏覽:558次
EddyCus® map 2530係列
非接觸片狀電阻、金屬層厚度、電阻率和電各向異性繪圖裝置
EddyCus® map 2530係列在非接觸模式下自動測量大型樣品的薄層電阻,最大可達300 x 300 mm²(12 x 12英寸)。在手動定位樣品後,設備會(hui) 自動測量並顯示整個(ge) 樣品區域的薄層電阻的精確圖譜。測量設置允許輕鬆靈活地選擇低於(yu) 1分鍾的快速測量時間或超過10萬(wan) 個(ge) 測量點的高空間測量分辨率。
特征
技術:非接觸式渦流
通過多點測繪成像
定位區域:300 mm x 300 mm
采樣區域:300 x 300 mm
推薦的樣品尺寸。1英寸到12英寸或25到300毫米
類型
片狀電阻成像 – EddyCus® map 2530SR [mOhm/sq, Ohm/sq, OPS]
金屬厚度成像 – EddyCus® map 2530MT [nm, µm, mm, mil]
電阻率和電導率成像 – EddyCus® map 2530RM [mOhm*cm, MS/m]
Anisotropy imaging – EddyCus® map 2530A (MD/TD)
濕塗層厚度和殘餘(yu) 水分成像 – EddyCus® map 2530HF [%]
軟件和設備控製
非常方便用戶的軟件
實時測繪
易於(yu) 使用的統計分析選項
預先定義(yi) 的測量和產(chan) 品配方(尺寸、間距、閾值)。
線掃描、直方圖和區域分析
黑色和彩色的圖像編碼
Csv和pdf輸出
PC匯總和輸出
3個(ge) 用戶級別
用於(yu) 參數轉換的材料數據庫
邊緣效應補償(chang)
數據的存儲(chu) 和導入
輸出數據集(例如,輸出到EddyEva、MS Excel、Origin)。