導電薄膜片狀電阻成像 – EddyCus® map 2530SR

EddyCus® map 2530係列

EddyCus® map 2530係列在非接觸模式下自動測量大型樣品的薄層電阻，最大可達300 x 300 mm²（12 x 12英寸）。在手動定位樣品後，設備會(hui) 自動測量並顯示整個(ge) 樣品區域的薄層電阻的精確圖譜。測量設置允許輕鬆靈活地選擇低於(yu) 1分鍾的快速測量時間或超過10萬(wan) 個(ge) 測量點的高空間測量分辨率。

特征

技術：非接觸式渦流

通過多點測繪成像

定位區域：300 mm x 300 mm

采樣區域：300 x 300 mm

推薦的樣品尺寸。1英寸到12英寸或25到300毫米

類型

片狀電阻成像 – EddyCus® map 2530SR [mOhm/sq, Ohm/sq, OPS]

金屬厚度成像 – EddyCus® map 2530MT [nm, µm, mm, mil]

電阻率和電導率成像 – EddyCus® map 2530RM [mOhm*cm, MS/m]

Anisotropy imaging – EddyCus® map 2530A (MD/TD)

濕塗層厚度和殘餘(yu) 水分成像 – EddyCus® map 2530HF [%]

軟件和設備控製

非常方便用戶的軟件

實時測繪

易於(yu) 使用的統計分析選項

預先定義(yi) 的測量和產(chan) 品配方（尺寸、間距、閾值）。

線掃描、直方圖和區域分析

黑色和彩色的圖像編碼

Csv和pdf輸出

PC匯總和輸出

3個(ge) 用戶級別

用於(yu) 參數轉換的材料數據庫

邊緣效應補償(chang)

數據的存儲(chu) 和導入

輸出數據集（例如，輸出到EddyEva、MS Excel、Origin）。

片狀電阻成像 – EddyCus® map 2530SR [mOhm/sq, Ohm/sq, OPS]