NanoScan2s 狹縫掃描光束分析儀#規格選型

NanoScan2s狹縫掃描光束分析儀(yi)

掃描式光束分析是一種經典的光斑測量技術，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，複原整個(ge) 光斑的分布。

掃描式光束分析儀(yi) 的優(you) 點 : 

取樣尺度可以到微米量級，遠小於(yu) CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

• 采用單點探測器，適應紫外 ~ 中遠紅外寬範圍波段；

單點探測器具備很高的動態範圍，一個(ge) 探頭可同時適應弱光和強光分析。

掃描式光束分析儀(yi) 的缺點 :  

• 多次掃描重構光束分布，不適合輸出不穩定的激光；

• 不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀(yi) 與(yu) 相機式光束分析儀(yi) 是互補關(guan) 係而非替代關(guan) 係；在很多應用，如小光斑測量（焦點測量）、紅外高分辨率光束分析等方麵，掃描式光束分析儀(yi) 具備du特的優(you) 勢。

特點和功能

·可測量連續激光以及大於(yu) 1kHz 重頻的脈衝(chong) 激光·取樣間隔可以調節小到 5.7nm，使其能夠極其精確地測量非常小的光斑，

·可顯示 2D/3D 光斑形貌

·掃描速度可調諧

·16 位數字化信號采集，35dB 高動態範圍，20Hz最刷新頻率·支持用戶進行二次開發，便於(yu) 集成

·探頭可添加功率計選項

矽、鍺和熱釋電探測器可選，測量範圍可覆蓋很寬的光譜範圍和功率級別

·不加衰減就可以測量較高功率或焦點處光斑·所有的 NanoScan 的校準都可以朔源 NIST 標準以確保最終的精度·符合國際標準ISO/DIN11146及IS013694。(1989~1996 年Photon 公司主持了 ISO/DIN 委員會(hui) 的工作，製訂出了ISO/DIN11146 標準)

軟件功能 :

NanoScan 提供 Standard 與(yu) Professional 兩(liang) 種功能版本