190nm-1100nm掃描式激光光束輪廓分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8

NanoScan 2s Si/3.5/1.8 掃描式激光光束輪廓分析儀(yi)

NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀(yi) 通過其矽探測器，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀(yi) 包括適合於(yu) 小光束的狹縫尺寸、近實時數據捕獲率、可選的功率測量功能等特征，且可在連續或kHz脈衝(chong) 模式下工作，非常適合於(yu) 對UV、VIS和NIR激光進行全麵分析。

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率級範圍為(wei) ~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan標準或專(zhuan) 業(ye) 軟件

PH00456

NS2s-SI/3.5/1.8-STD

狹縫掃描式小光束輪廓分析儀(yi) ：矽探測器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫

PH00464

NS2s-Si/3.5/1.8-PRO

狹縫掃描式小光束輪廓分析儀(yi) ：矽探測器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫

產(chan) 品規格

產(chan) 品名稱：NanoScan 2s Si/3.5/1.8

傳(chuan) 感器類型：Silicon Photodetector

光譜範圍：190 to 1100 nm

狹縫尺寸：1.8 µm

孔徑尺寸：3.5 mm

光束尺寸：7 μm to 2.3 mm

掃描頭尺寸：83 mm

功率範圍：10 nW to 10 W

通信：USB 2.0