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NanoScan 2s 係列狹縫掃描式光束分析儀#優劣勢對比
日期：2024-03-27瀏覽：734次
NanoScan 2s 係列狹縫掃描式光束分析儀(yi) ，源自2010 年加入OPHIR 集團的PHOTON INC。PHOTON INC 自 1984 年開始研發生產(chan) 掃描式光束分析儀(yi) ，在光通訊、LD/LED 測試等領域享有盛名。掃描式與(yu) 相機式光斑分析儀(yi) 的互補聯合使得OPHIR 可提供完備的光束分析解決(jue) 方案。
掃描式光束分析是一種經典的光斑測量技術，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，複原整個(ge) 光斑的分布。
| 掃描式光束分析儀的優點 | 掃描式光束分析儀的缺點 | |
| 取樣尺度可以到微米量級，遠小於CCD像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大； | 多次掃描重構光束分布，不適合輸出不穩定的激光； | |
| 采用單點探測器，適應紫外-中遠紅外寬範圍波段； | 不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。 | |
| 適應弱光和強光分析； | 掃描式光束分析儀與相機式光束分析儀是互補關係而非替代關係；在很多應用，如小光斑測量（焦點測量）、紅外高分辨率光束分析等方麵，掃描式光束分析儀具備du特的優勢。 |
