20µm至~6mm光束 狹縫掃描激光輪廓分析儀

產(chan) 品型號：NanoScan 2s Si/9/5

廠商性質：經銷商

所在地：深圳市

更新時間：2024-11-12

產(chan) 品簡介：

NanoScan 2s Si/9/5 20µm至~6mm光束 狹縫掃描激光輪廓分析儀(yi)

通過其矽探測器，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀(yi) 包括適合於(yu) 大多數光束的狹縫尺寸、近實時數據捕獲率、可選功率測量功能等特征，且可在連續或kHz脈衝(chong) 模式下工作，非常適合於(yu) 對UV、VIS和NIR激光進行全麵分析。

光束尺寸20µm至~6mm

功率級範圍為(wei) ~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan標準或專(zhuan) 業(ye) 軟件

PH00457

NS2s-Si/9/5-STD

狹縫掃描式光束輪廓分析儀(yi) ：矽探測器，9mm孔徑，5µm狹縫

PH00465

NS2s-Si/9/5-PRO

狹縫掃描式光束輪廓分析儀(yi) ：矽探測器，9mm孔徑，5µm狹縫

產(chan) 品規格

產(chan) 品名稱：NanoScan 2s Si/9/5

傳(chuan) 感器類型：Silicon Photodetector

光譜範圍：190 to 1100 nm

狹縫尺寸：5 µm

孔徑尺寸：9 mm

光束尺寸：20 µm to 6 mm

掃描頭尺寸：83 mm

功率範圍：10 nW to 10 W

通信：USB 2.0

NanoScan 2s Si/9/5 20µm至~6mm光束 狹縫掃描激光輪廓分析儀(yi)

使用NanoScan的狹縫掃描式激光光束輪廓分析儀(yi)

掃描式光束分析是一種經典的光斑測量技術，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，複原整個(ge) 光斑的分布。

掃描式光束分析儀(yi) 的優(you) 點 :

取樣尺度可以到微米量級，遠小於(yu) CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

采用單點探測器，適應紫外 ~ 中遠紅外寬範圍波段；

單點探測器具備很高的動態範圍，一個(ge) 探頭可同時適應弱光和強光分析。

掃描式光束分析儀(yi) 的缺點 : 

多次掃描重構光束分布，不適合輸出不穩定的激光；

不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀(yi) 與(yu) 相機式光束分析儀(yi) 是互補關(guan) 係而非替代關(guan) 係；在很多應用，如小光斑測量（焦點測量）、紅外高分辨率光束分析等方麵，掃描式光束分析儀(yi) 具備du特的優(you) 勢。